當前位置:首頁(yè) > 產(chǎn)品中心 > > 介質(zhì)損耗介電常數測定儀 > HJS-I介電常數介質(zhì)損耗測試儀
簡(jiǎn)要描述:介電常數介質(zhì)損耗測試儀由HJS-I型高頻Q表、AS916測試裝置(夾具)、數據采集和tanδ自動(dòng)測量控件(裝入HJS-I型高頻Q表軟件模塊)、及HLKI-1型電感器組, 液體杯(可選,用于測試液態(tài)材料)組成。高頻介質(zhì)損耗(介電常數)測試系統依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會(huì )IEC60250的規定設計制作。系統提
產(chǎn)品分類(lèi)
Product Category相關(guān)文章
Related Articles詳細介紹
介電常數介質(zhì)損耗測試系統方案
高頻介質(zhì)損耗(介電常數)測試系統由HJS-I型高頻Q表、AS916測試裝置(夾具)、數據采集和tanδ自動(dòng)測量控件(裝入HJS-I型高頻Q表軟件模塊)、及HLKI-1型電感器組, 液體杯(可選,用于測試液態(tài)材料)組成。
介電常數介質(zhì)損耗測試儀依據國標GB/T 1409-2006、GB/T 1693-2007、美標ASTM D150以及國際電工委員會(huì )IEC60250的規定設計制作。系統提供了絕緣材料的高頻介質(zhì)損耗角正切值(tanδ)和介電常數(ε)自動(dòng)測量的最佳解決方案。
介電常數介質(zhì)損耗測試儀配置方案如下表:
主機 | HJS-I高頻Q表 |
測試裝置 | AS916 |
HLKI-1型電感器組 | 9個(gè) |
試驗液體杯 | 可選 |
1 HJS-A+AS916+HLKI-1電感組配置及參數:
測試頻率范圍 | 10KHz-70MHz, LCD顯示,6位有效數 ,DDS數字合成 |
Q值測量范圍 | 1~1000四位數顯,±0.1Q分辨率 |
可調電容范圍 | 28~490pF 0.1pF分辨率 |
電容測量誤差 | ±0.5%±0.5pF |
Q表殘余電感值 | 約20nH |
AS916測試裝置 | 屏幕5位數顯,極片為φ38和φ50二選一,支持液體杯測試, 液體杯測試極片為φ38 |
數據采集和tanδ自動(dòng)測量控件 | 支持 |
技術(shù)參數
(1)Q值測量
a.Q值測量范圍:2~1023。
b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔。
c.標稱(chēng)誤差
頻率范圍 10kHz~10MHz;
固有誤差 ≤5%±滿(mǎn)度值的2%;
工作誤差 ≤7%±滿(mǎn)度值的2%;
頻率范圍 10MHz~70MHz;
固有誤差 ≤6%±滿(mǎn)度值的2%;
工作誤差 ≤8%±滿(mǎn)度值的2%。
(2)電感測量范圍:14.5nH~8.14H
(3)電容測量:1~ 460
項 目
直接測量范圍 1~460pF
主電容調節范圍 30~500pF
準 確 度 150pF以下±1pF;
150pF以上±1%
(4)信號源頻率覆蓋范圍
項 目
頻率范圍 10kHz~70MHz
頻率分段(虛擬) 10~99.9999kHz
100~999.999kHz
1~9.99999MHz
10~70MHz
頻率指示誤差 3×10-5±1個(gè)字
(5)Q合格指示預置功能
預置范圍:5~1000。
(6)Q表正常工作條件
a. 環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
b.相對濕度:<80%;
c.電源:220V±22V, 50Hz±2.5Hz。
4、設備配置:
a.測試主機一臺;
b.電感9只;
c.夾具一套
產(chǎn)品咨詢(xún)
微信掃一掃